AOI检测中光源类型对检测效果的影响及选型原则发表时间:2026-03-18 11:12 光源是AOI检测的“眼睛”,选对光,缺陷无处藏身! 光源直接影响AOI图像质量,决定算法识别精度。不同光源会让同一缺陷呈现不同特征。 一、光源类型对检测效果的影响 光源通过方向性、颜色、均匀性三个维度影响效果: 1. 环形光源:多角度LED阵列形成均匀照明,消除阴影,还原物体本色。适用于字符识别、PCB基板色差检测,但对凹凸缺陷对比度不足。 2. 同轴光源:光线垂直照射,消除镜面眩光,适合高反光表面,但黑色物体效果差。 3. 条形光源:定向照射产生阴影,突出立体感。用于焊点平整度、表面压痕检测,阴影增强深度信息。 4. 背光源:背面打光形成剪影,轮廓对比度高。适用于尺寸测量、透明物体异物检测。 5. 颜色光源: - 红光穿透性强,检测透明物体内部; - 蓝光捕捉细微划痕; - 红外光穿透特定油墨; - 白光还原真实色彩。 *互补色增强对比*:如红光照射红色背景上的黑色标记,使标记更暗。 二、光源选型原则 1. 匹配缺陷特征: - 划痕/凹凸:低角度或同轴光源; - 异物/脏污:互补色或高亮白光; - 尺寸/位置:背光源; - 平整度:多光源组合或3D激光。 2. 适配材质: - 高反光表面:同轴或漫射光源; - 粗糙表面:环形/条形光源; - 异形表面:多角度或穹顶光源。 3. 优化颜色对比: - 目标与背景灰度差最大化; - 色彩缺陷需高显色白光。 4. 抗干扰与稳定: - 复杂环境光下用红外/紫外光源; - LED频闪延长寿命,减少发热。 5. 试验与组合: - 实际打光测试验证理论; - 复杂需求可组合多光源分时频闪。
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